O始zbekiston Respublikasi Prezidentining 2017-yil 1-noyabrdagi "Ilmiy-tadqiqot muassasalari infratuzilmasini yanada mustahkamlash va innovatsion faoliyatni rivojlantirish chora-tadbirlari to始g始risida" gi PQ-3365-sonli Farmoni ijrosi doirasida, O始zbekiston Respublikasi Fanlar akademiyasi Materialshunoslik institutiga Gollandiyaning Malvern Panalytical B.V. tomonidan ishlab chiqarilgan Empyrean rentgen diffraktometri olib kelindi.
Vertikal joylashtirilgan goniometr va gorizontal namuna tutish holatiga ega bo始lgan ko始p funksional rentgen diffraktometri rentgen difraksiyasini tahlil qilishga va quyidagi o始lchashlarga imkon beradi:
-eng yuqori aniqlik bilan klassik fazaviy tahlil qilish;
-fazaviy miqdoriy tahlil;
-kristalli, polikristalli va amorf moddalarning birlik yacheykasi parametrlarini aniqlash;
-yupqa plyonkalarni, ko始p qatlamli qoplamalarni tahlil qilish;
-fazalarni qatlamlar bo始yicha aniqlash;
-mikrodifraksiya;
-stresslar va kristalit o始lchamlarini aniqlash;
-monokristallarni tahlil qilish;
-reflektometriya, qatlamlarning qalinligi va zichligini aniqlash;
-nanoo始lchamli kukun va materiallarni tahlil qilish;
-kichik burchakli rentgen nurlari;
-tekislikdagi difraksiya;
-ekstremal sharoitlarda ishlov berishdagi tadqiqotlarni o始tkazish;
-kristalli nanostrukturaning parametrlarini o始zgartirganda fazali o始tishni aniqlash.
Qurilma tezkor ro始yxatga olish tizimi bilan jihozlangan bo始lib, u rentgenogramma difraksiyasi ma始lumotlarini burchak piksellar sonini yo始qotmasdan yig始ishda rentgen diffraktometri tezligini oshirishni ta始minlaydi. Robot namunalarini yuklash tizimi bir vaqtning o始zida 15 tagacha namunalarni yuklashga imkon beradi.
Difraktometr nurli diafragmani oshirish uchun mis anodli (fokus kattaligi - 0,4 x 12,0 mm) bo始lgan o始tkir fokusli naychadan foydalanadi, shuningdek, parabolik oyna bilan ishlaganda, ingichka qatlamlar va amorf materiallarni kichik burchakli tadqiqotlarida parallel nurli geometriyani hosil qiladi.
Difraktometr uzatish va aks ettirish rejimlarida namunalarni o始lchash uchun universal biriktirma bilan jihozlangan.
To始plamga keng harorat oralig始ida namunalarni tekshirish uchun yuqori haroratli kameralar kiradi: vakuumda +25 dan + 2000 0小 gacha, havoda +25 dan + 15000 0小 gacha. Vakuumda ishlash uchun tantal isitgich va tantal namunasi ushlagichi ishlatiladi. Havoda ishlash uchun platina isitgich va platina namunali ushlagich ishlatiladi.
Shunday qilib, kukun holatlarda, yupqa plyonkalarda, nanomateriallardan to monkristallargacha bo始lgan turli namunalarda bitta uskunada noyob o始lchovlarni amalga oshirish mumkin bo始ladi.
Biz qiziqqan ilmiy muassasalarni, olimlarni, doktorantlarni va yosh olimlarni Empyrean rentgen diffraktometri yordamida ilmiy hamkorlikka va izlanishlarga taklif etamiz.
Murojaat uchun: S.X. Suleymanov – laboratoriya mudiri.
Tel.: +998 97 777 26 51
e-mail: sultan.suleimanov@gmail.com
